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低温烧结型银浆料对半导体芯片贴装性能的影响
引用本文:甘卫平,刘妍,甘梅.低温烧结型银浆料对半导体芯片贴装性能的影响[J].中国有色金属学报,2008,18(3):476-482.
作者姓名:甘卫平  刘妍  甘梅
作者单位:中南大学,材料科学与工程学院,长沙,410083
摘    要:研究低温烧结型银/玻璃体系浆料的成分配比、制备工艺及其半导体芯片贴装烧结工艺,探讨浆料中银粉、玻璃粉和有机载体的成分对浆料烧结体的微观组织、热导率、线膨胀系数及芯片组装的剪切力之间的影响关系,利用理论模型计算浆料烧结体的热导率和线膨胀系数,分析其理论计算值与实测值差异的影响因素。结果表明:随着玻璃粉含量的增加,浆料烧结体的线膨胀系数及热导率逐渐降低,当银粉和玻璃粉的质量比为7:3,固体混合粉末与有机载体的质量比为8:2时,芯片贴装后可满足热导率和线膨胀系数性能的要求,同时所承受的剪切力最大。

关 键 词:低温烧结型银浆料  线膨胀系数  热导率  剪切力  低温  烧结型  银浆料  半导体  芯片贴装  性能  影响因素  chip  assembly  semiconductor  properties  paste  silver  混合粉末  固体  质量比  含量  结果  差异  实测值  计算值
文章编号:1004-0609(2008)03-0476-07
修稿时间:2007年7月26日

Effect of low-temperature sintered silver paste on properties of semiconductor chip assembly
GAN Wei-ping,LIU Yan,GAN Mei.Effect of low-temperature sintered silver paste on properties of semiconductor chip assembly[J].The Chinese Journal of Nonferrous Metals,2008,18(3):476-482.
Authors:GAN Wei-ping  LIU Yan  GAN Mei
Abstract:
Keywords:
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