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对自缩序列生成器的错误攻击
引用本文:高军涛,胡予濮,李雪莲. 对自缩序列生成器的错误攻击[J]. 西安电子科技大学学报(自然科学版), 2006, 23(5): 809-813
作者姓名:高军涛  胡予濮  李雪莲
作者单位:西安电子科技大学计算机网络与信息安全教育部重点实验室,陕西西安710071
基金项目:国家自然科学基金;教育部高等学校博士学科点专项科研基金;国家重点实验室基金
摘    要:通过改变线性反馈移位寄存器的内部状态对自缩生成器实施了错误攻击,通过修改控制时钟对互缩生成器进行了相移错误攻击.结果表明,对于互缩生成器,攻击者仅需实施n=max{n1,n2}次的相移延迟就可以获得密钥种子,对于自缩生成器,攻击者至多改变n次寄存器的比特值就可以获得密钥种子。

关 键 词:错误攻击  自缩生成器  互缩生成器
文章编号:1001-2400(2006)05-0809-05
收稿时间:2005-11-07
修稿时间:2005-11-07

Fault analysis for self-shrinking generator
GAO Jun-tao,HU Yu-pu,LI Xue-lian. Fault analysis for self-shrinking generator[J]. Journal of Xidian University, 2006, 23(5): 809-813
Authors:GAO Jun-tao  HU Yu-pu  LI Xue-lian
Affiliation:Ministry of Edu. Key Lab. of Computer Network and Information Security, Xidian Univ., Xi′an 710071, China
Abstract:A fault attack on the self-shrinking generator is presented by changing the internal states in the linear feedback shift registers. Besides, a shifts attack on the shrinking generator is described by modifying the control clock. Results show that, for the shrinking generator, the attacker can obtain the secret keys by implementing n = max{n1 ,n2 } times phase shift attacks, and that for the self-shrinking generator, the attacker can obtain the secret keys by changing the bit values in n registers.
Keywords:fault analysis   self-shrinking generator   shrinking generator
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