首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于SRAM测试的MBIST电路实现方案
引用本文:刘学勇, 李晓江, 马成炎,.基于SRAM测试的MBIST电路实现方案[J].电子器件,2008,31(4).
作者姓名:刘学勇  李晓江  马成炎  
作者单位:中国科学院微电子所,杭州,310053
摘    要:现代SOC电路设计中,存储器特别是SRAM模块的面积占有很大的一部分.通常测试这些存储器采用的方法是通过EDA工具来生成MBIST电路来对SRAM进行测试.然而在没有专门EDA工具的情况下,我们必须手工写电路.本文提供了这一手工MBIST的实现方案,并给出仿真和综合结果.

关 键 词:测试  实现

Design Implementing of MBIST Circuit Based on SRAM Test
LIU Xue-yong,LI Xiao-jiang,MA Cheng-yan.Design Implementing of MBIST Circuit Based on SRAM Test[J].Journal of Electron Devices,2008,31(4).
Authors:LIU Xue-yong  LI Xiao-jiang  MA Cheng-yan
Affiliation:LIU Xue-yong,LI Xiao-jiang,MA Cheng-yan(Institute of Microelectronics,CAS.Hangzhou 310053,China)
Abstract:Nowadays,SRAMs often take up a lot of room in the layout of SOC design.We often use EDA tools to generate specific MBIST circuits to test these SRAMs.But under the circumstance that we have no such EDA tools,what we can do is just writing verilog codes artificially.This article provides a method to fulfill the MBIST design without any specific EDA tools,and at last it gives out simulation results and synthesis reports.
Keywords:SRAM  MBIST
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《电子器件》浏览原始摘要信息
点击此处可从《电子器件》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号