嵌入式系统内存检测分析 |
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引用本文: | 符冬阳. 嵌入式系统内存检测分析[J]. 微型机与应用, 2012, 31(21) |
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作者姓名: | 符冬阳 |
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作者单位: | 中兴通讯股份有限公司南京研究所,江苏南京,210012 |
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摘 要: | 在大部分嵌入式系统中,内存的好坏主要依赖于内存芯片厂家的检测,对系统运行中出现的内存偶然故障,缺乏有效的检测手段。对嵌入式系统中内存检测的各个阶段、内存检测方式以及全空间检测方法等进行了详细描述。
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关 键 词: | 嵌入式系统 内存检测 |
Analysis of memory testing in embedded system |
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Abstract: | |
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Keywords: | embedded system memory test |
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