基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统设计研究

随着有源相控阵天线技术的发展，针对有源相控阵天线的快速校准及测量成为了制约其大批量产业化生产的瓶颈。本文针对有源相控阵天线校准测试效率问题设计了一套基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统I，可实现多频点、多波束的自动化测试。系统用于产品辐射特性测试，对远场波瓣图进行采集，并具备幅相校准，波束指向精度补偿，ERP和G/T等指标的测试和处理能力。