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单片机测控系统的抗干扰技术
引用本文:骆德汉.单片机测控系统的抗干扰技术[J].电气自动化,1996,18(4):54-56.
作者姓名:骆德汉
摘    要:在研究了工业测控系统常见的干扰源及干扰源进入测控系统的途径后,从抑制干扰源,破坏干扰途径,提高系统整体抗干扰能力角度入手,分别介绍单片机测控系统的硬抗干扰设计技术和软件抗干扰设计技术。

关 键 词:抗干扰  测控系统  微机
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