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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
基于CRC算法的Rom Bist设计
作者姓名:
郑晓亮
戴澜
作者单位:
北方工业大学信息工程学院微电子中心
摘 要:
存储器内置自测试是嵌入式存储器测试的一种极为重要的方法,本文以ROM测试作为研究的对象。而CRC码(循环校验码)是一种在实际通信中应用很广泛的差错控制编码,具有很强的检错能力,可以很好的完成Rom内容的校验测试。本文把CRC串行运算方法作为依据,连续完成8bit串行运算作为一个单元,实现了8bitCRC并行运算,并通过逻辑推理和运算,给出了Verilog HDL语言的逻辑表达式。最后,基于CRC算法提出了一种Rom测试的设计方案。
关 键 词:
CRC
ROM
BIST
Verilog HDL
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