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| 对圆度记录图形畸变机理的探讨 | |
| 引用本文： | 范裕健.对圆度记录图形畸变机理的探讨[J].计量技术,1988(8). |
| 作者姓名： | 范裕健 |
| 作者单位： | 西安交通大学 |
| 摘 要： | 对于圆度记录图形畸变机理的探讨已有过不少报道,但介绍的方法均不够完善。笔者认为,在半径抑制下,即零件基圆半径的放大倍数K与测量位移的放大倍数M不相等时,测量偏心不但对零件基圆有影响,而且对测量位移亦有影响。本文对此作一探讨。一、圆度测量原理精密测量圆度的仪器主要是圆度仪。它以其精密轴系的回转而使在径向安装的位移传感器与被测截面产生相对旋转运动。旋转时与测 |
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