晶体传感器使扫描探测显微技术达到纳米级水平 |
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引用本文: | 爱莲.晶体传感器使扫描探测显微技术达到纳米级水平[J].军民两用技术与产品,2006(4):20. |
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作者姓名: | 爱莲 |
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摘 要: | 美国加利福尼亚州的太平洋纳米技术公司(PNI)研制出品体传感器,该产品是高质量扫描探测显微技术(SPM)的关键。在晶体传感器上,图像探测器装在一个小的石英晶体振荡器的共振臂顶端。当成像时,振幅小于0.3nm,探测表面力小于0.3nN(纳牛),这样可确保形成高质量的清晰图像。在PNI的纳米R型和纳米I型扫描探测显微镜中都使用了晶体传感器。
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关 键 词: | 扫描探测显微镜 晶体传感器 显微技术 纳米级 石英晶体振荡器 图像探测器 加利福尼亚州 纳米技术 水 太平洋 |
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