| 原子力显微镜相位成像模式的设计及研究 |
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| 引用本文： | 李渊,钱建强,徐平,李亭,蔡微,姚骏恩.原子力显微镜相位成像模式的设计及研究[J].电子显微学报,2006,25(4):341-344. |
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| 作者姓名： | 李渊 钱建强 徐平 李亭 蔡微 姚骏恩 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学,物理系,北京,100083;北京航空航天大学,物理系,北京,100083;北京航空航天大学,物理系,北京,100083;北京航空航天大学,物理系,北京,100083;北京航空航天大学,物理系,北京,100083;北京航空航天大学,物理系,北京,100083 |
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| 摘 要： | 相位成像模式是近几年发展起来的一种原子力显微镜的检测模式，该模式可以提供丰富的样品表面纳米尺度信息，是形貌像的有利补充。本文给出了一种应用原子力显微镜轻敲模式的相位检测电路，结构简单，工作可靠稳定。通过实验获得了一些样品的相位像。
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 轻敲模式 相位成像 |
| 文章编号： | 1000-6281（2006）04-0341-04 |
| 收稿时间： | 2006-05-20 |
| 修稿时间： | 2006-05-20 |
Design and research of phase imaging-mode atomic force microscopy |
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| LI Yuan,QIAN Jian-qiang,XU Ping,LI Ting,CAI Wei,YAO Jun-en.Design and research of phase imaging-mode atomic force microscopy[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2006,25(4):341-344. |
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| Authors: | LI Yuan QIAN Jian-qiang XU Ping LI Ting CAI Wei YAO Jun-en |
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| Affiliation: | Physics Department, Beihang University, Beijing 100083, China |
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| Abstract: | Phase Imaging is a newly developed detecting method of atomic force microscopy which can provide more nanoscale information of sample surface. In this paper, a new phase detect circuitry for atomic force microscope has been developed. The phase images and simultaneous topographies acquired by this circuit were presented. |
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| Keywords: | atomic force microscope tapping mode phase imaging |
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