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高速高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用
引用本文:余丽霞,周文超,虞鹤松,刘昱欣.高速高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用[J].现代电子技术,2003(12):65-67.
作者姓名:余丽霞  周文超  虞鹤松  刘昱欣
作者单位:西安交通大学,陕西,西安,710049
摘    要:通过单片机应用于露点测试系统中存在的缺陷,引入了美国Cygnal公司新近在国内推出的C8051F020单片机,并对该单片机的功能和特点进行了应用性探讨,提出了在露点潮试系统中采用C8051F020单片机的可行性方案,通过比较显示:该方案具有更高的性价比。

关 键 词:单片机  C8051F020  露点测试系统  SOC  应用
文章编号:1004-373X(2003)12-065-03
修稿时间:2003年4月3日

High Speed and Performance MCU C8051F020 and Its Application in Dew Point Test System
YU Lixia,ZHOU Wenchao,YU Hesong,LIU Yuxin.High Speed and Performance MCU C8051F020 and Its Application in Dew Point Test System[J].Modern Electronic Technique,2003(12):65-67.
Authors:YU Lixia  ZHOU Wenchao  YU Hesong  LIU Yuxin
Abstract:This paper introduces the new MCU C8051F020 produced by Cygnal company through reveled the flaws in the dew point test system The paper analyse the function and characteristics of this MCU and make an application in the dew point test system with the MCU By cooperation the system with MCU C8051F020 is better
Keywords:high speed and performance  MCU C8051F020  dew point test system  SOC  
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