CCGA焊点热循环加载条件下应力应变有限元分析 |
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引用本文: | 黄春跃,周德俭,等.CCGA焊点热循环加载条件下应力应变有限元分析[J].桂林电子工业学院学报,2001,21(3):22-28. |
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作者姓名: | 黄春跃 周德俭 |
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摘 要: | SMT焊点在热循环加载条件下的应力应变过程分析是SMTO时点可靠性研究的重要内容。SMT焊点的可靠性问题主要是焊点在热循环过程中,由于陶瓷芯片载体与基板材料之间的热膨胀失配而导致焊点的蠕变疲劳失效,以CCGA焊点为例,利用CCGA三维焊点形态预测表面节点输出结果,将焊点形态分析三维表面模型转换为焊点应力应变有限元分析三维实体模型。从而建立了CCGA焊点可靠性分析模型,采用三维有限元方法分析了CCGA焊点在热循环条件下的应力应变过程,在此基础上对CCGA焊点疲劳寿命进行了计算。
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关 键 词: | CCGA 有限元分析 应力应变 焊点 热循环加载条件 |
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