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新型湿法氧化对多孔硅发光强度的影响
引用本文:蔡贝妮,陈松岩,曾明刚,蔡加法.新型湿法氧化对多孔硅发光强度的影响[J].光电子.激光,2004,15(8):951-954.
作者姓名:蔡贝妮  陈松岩  曾明刚  蔡加法
作者单位:厦门大学物理与机电工程学院,厦门,361005;厦门大学物理与机电工程学院,厦门,361005;厦门大学物理与机电工程学院,厦门,361005;厦门大学物理与机电工程学院,厦门,361005
摘    要:在适当条件下氧化多孔硅是提高多孔硅发光强度的良好途径。首次采用含CH3CSNH2的HF酸水溶液作为氧化剂对初始多孔硅进行了湿法阳极氧化,大大改善了多孔硅的发光强度,并研究了氧化电流密度、氧化温度、氧化时间等一系列因素对氧化多孔硅光致发光强度的影响。实验发现,在电流密度1mA/cm^2,氧化液温度60℃,氧化时间为10min的条件下,可以获得最强光致发光;在此最优条件下得到的氧化样品较初始样品发光增强了18倍。

关 键 词:多孔硅(PS)  湿法氧化  光致发光(PL)
文章编号:1005-0086(2004)08-0951-04

Effect on Photoluminescence Intensity of Porous Silicon Processing by a Wet Oxidized Technology
CAI Bei-ni,CHEN Song-yan,ZENG Ming-gang,CAI Jia-fa.Effect on Photoluminescence Intensity of Porous Silicon Processing by a Wet Oxidized Technology[J].Journal of Optoelectronics·laser,2004,15(8):951-954.
Authors:CAI Bei-ni  CHEN Song-yan  ZENG Ming-gang  CAI Jia-fa
Affiliation:CAI Bei-ni~*,CHEN Song-yan,ZENG Ming-gang,CAI Jia-fa
Abstract:
Keywords:porous silicon(PS)  wet oxidized  photoluminescence
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