| 椭圆弯晶谱仪分析器研制 |
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| 引用本文： | 施军,肖沙里,雷小明,徐东镪,张世欣.椭圆弯晶谱仪分析器研制[J].仪器仪表学报,2008,29(5):982-985. |
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| 作者姓名： | 施军 肖沙里 雷小明 徐东镪 张世欣 |
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| 作者单位： | 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400030 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(NSAF基金)项目 |
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| 摘 要： | 针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析,可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息.研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱,进而实现对激光惯性约束核聚变的控制.探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理,分析了积分反射率和质量吸收系数.弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器,椭圆焦距2c为1 350 mm,椭圆离心率e为0.958 6,晶体布拉格角范围为30°至60°.在此对LiF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述.实验结果表明,该晶体分析器对X射线的分辨率(λ/Δλ)可达900以上,能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断.
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| 关 键 词： | 晶体谱仪 弯晶分析器 积分反射率 分辨率 椭圆 弯晶谱仪 晶体分析器 analyzer crystal 激光等离子体 分辨率 结果 实验 描述 制作工艺 范围 布拉格角 离心率 焦距 弯晶分析器 质量吸收系数 积分反射率 理论原理 控制 |
| 修稿时间： | 2007年2月1日 |
Design of elliptical crystal spectrograph analyzer |
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| Shi Jun,Xiao Shali,Lei Xiaoming,Xu Dongqiang,Zhang Shixin.Design of elliptical crystal spectrograph analyzer[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(5):982-985. |
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| Authors: | Shi Jun Xiao Shali Lei Xiaoming Xu Dongqiang Zhang Shixin |
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