利用252Cf快电离室裂变γ射线测量NaI(Tl)定时精度 |
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作者姓名: | 李建胜 金宇 张翼 |
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作者单位: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900;中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900;中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900 |
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摘 要: | 为了测量γ射线入射NaI(Tl)探测器的定时相对不确定范围,利用纳秒响应252Cf快电离室,通过252Cf裂变γ射线和中子飞行时间谱测量,由γ射线峰时间宽度获得探测器定时精度。采用BC501液体闪烁探测器和NaI(Tl)探测器,γ峰的FWHM分别为1.2 ns和1.7 ns,NaI(Tl)探测器的定时精度FWTM能够达到3.5 ns。
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关 键 词: | NaI(Tl) 闪烁探测器 252Cf 电离室 定时精度 |
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