大规模通用数字集成电路测试系统研制成功期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

大规模通用数字集成电路测试系统研制成功

摘要：	“八五”科技攻关项目《大型测试系统开发》即BC3190大规模通用集成电路测试系统,近日通过国家计委和电子工业部组织的专家鉴定。该项目由北京自动测试技术研究所牵头,在协作单位的配合下,经过几年的奋斗,圆满地完成了国家重点科技攻关任务。该系统采用90年代国际先进的管脚定时事件驱动结构,建立了良好的技术平台及编制了相应的软件,从而
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