首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

集成电路用Cu-Ni-Si-Cr合金流变应力行为研究
引用本文:范莉,刘平,贾淑果,田保红,于志生. 集成电路用Cu-Ni-Si-Cr合金流变应力行为研究[J]. 特种铸造及有色合金, 2009, 29(3). DOI: 10.3870/tzzz.2009.03.030
作者姓名:范莉  刘平  贾淑果  田保红  于志生
作者单位:河南科技大学材料科学与工程学院
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),国家自然科学基金,河南省杰出青年科学基金 
摘    要:在Gleeble-1500D热模拟试验机上对Cu-Ni-Si-Cr合金在应变速率为10-2、10-1、1、5 s-1、变形温度为600~800℃条件下进行流变应力行为研究.结果表明,应变速率和变形温度的变化对合金的再结晶影响较大,变形温度越高,合金越容易发生动态再结晶;应变速率越小,合金也越容易发生动态再结晶;并利用Arrhenius双曲正弦函数求得Cu-Ni-Si-Cr的热变形激活能Q为265.9 kJ/mol,从Zener-Hollomon参数的指数函数形式得到应变速率解析表达式.

关 键 词:Cu-Ni-Si-Cr合金  动态再结晶  热模拟

Flow Stress Behavior of Cu-Ni-Si-Cr Alloy for Lead Frame Materials
Fan Li,Liu Ping,Jia Shuguo,Tian Baohong,Yu Zhisheng. Flow Stress Behavior of Cu-Ni-Si-Cr Alloy for Lead Frame Materials[J]. Special Casting & Nonferrous Alloys, 2009, 29(3). DOI: 10.3870/tzzz.2009.03.030
Authors:Fan Li  Liu Ping  Jia Shuguo  Tian Baohong  Yu Zhisheng
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号