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溅射气压对磁控溅射Mo背电极层形貌与结构的影响
引用本文:宋斌斌,于涛,张传升,李博研,李新连,郭凯,左宁,赵树利,陈颉. 溅射气压对磁控溅射Mo背电极层形貌与结构的影响[J]. 材料导报, 2016, 30(16): 35-38, 59. DOI: 10.11896/j.issn.1005-023X.2016.16.008
作者姓名:宋斌斌  于涛  张传升  李博研  李新连  郭凯  左宁  赵树利  陈颉
作者单位:北京低碳清洁能源研究所,北京102211;北京市纳米结构薄膜太阳能电池工程技术研究中心,北京102211
摘    要:采用直流磁控溅射法在溅射气压为0.1~1.0Pa下制备了金属Mo膜。用扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)对单层Mo膜的表面、断面形貌和粗糙度进行了分析与表征;用X射线衍射(XRD)研究了气压对Mo膜晶粒尺寸和薄膜应力应变的影响;用SEM观察了双层和三层Mo背电极层的表面形貌。结果表明,溅射气压升高,表面颗粒由细长变得圆润,均方根粗糙度升高,其值介于1.32~4.81nm之间;Mo膜的晶粒尺寸随气压的升高而降低,其值介于27.2~11.7nm之间;溅射气压为0.2Pa和0.3Pa时制备的Mo膜显现为张应力;将双层Mo背电极表面制备0.7Pa的Mo层后,表面更加圆润,孔隙增多。

关 键 词:磁控溅射  CIGS  Mo背电极  溅射气压  形貌结构

Influence of Working Pressure on Morphologies and Microstructures of Magnetron Sputtered Mo Back Electrode
SONG Binbin,YU Tao,ZHANG Chuansheng,LI Boyan,LI Xinlian,GUO Kai,ZUO Ning,ZHAO Shuli and CHEN Jie. Influence of Working Pressure on Morphologies and Microstructures of Magnetron Sputtered Mo Back Electrode[J]. Materials Review, 2016, 30(16): 35-38, 59. DOI: 10.11896/j.issn.1005-023X.2016.16.008
Authors:SONG Binbin  YU Tao  ZHANG Chuansheng  LI Boyan  LI Xinlian  GUO Kai  ZUO Ning  ZHAO Shuli  CHEN Jie
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering   CIGS   Mo back electrode   sputtering pressure   morphology and microstructure
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