| 集成电路单粒子瞬态效应与测试方法 |
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| 引用本文： | 刘健波,刘远,恩云飞,雷志锋,王晓晗,杨元政. 集成电路单粒子瞬态效应与测试方法[J]. 微电子学, 2014, 0(1): 135-140 |
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| 作者姓名： | 刘健波 刘远 恩云飞 雷志锋 王晓晗 杨元政 |
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| 作者单位： | 广东工业大学 材料与能源学院, 广州 510006;工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;广东工业大学 材料与能源学院, 广州 510006;工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;广东工业大学 材料与能源学院, 广州 510006 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61204112)； 中国博士后科学基金资助项目(2012M521628)。 |
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| 摘 要： | 随着器件尺寸的等比例缩小,单粒子瞬态效应对集成电路的影响愈发明显,其产生机理及作用更加复杂。从集成电路单粒子瞬态脉冲的产生机理及模型出发,讨论分析了模拟和数字集成电路的单粒子瞬态效应,介绍了单粒子瞬态脉冲宽度的测试方法与测试结构。
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| 关 键 词： | 单粒子效应 单粒子瞬态效应 自测试结构 |
Single Event Transients in Integrated Circuits and Test Methods |
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| LIU Jianbo,LIU Yuan,EN Yunfei,LEI Zhifeng,WANG Xiaohan and YANG Yuanzheng. Single Event Transients in Integrated Circuits and Test Methods[J]. Microelectronics, 2014, 0(1): 135-140 |
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| Authors: | LIU Jianbo LIU Yuan EN Yunfei LEI Zhifeng WANG Xiaohan YANG Yuanzheng |
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| Affiliation: | Faculty of Materials and Energy, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, P.R.China;Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, CEPREI, Guangzhou 510610, P.R.China;Faculty of Materials and Energy, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, P.R.China;Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, CEPREI, Guangzhou 510610, P.R.China;Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, CEPREI, Guangzhou 510610, P.R.China;Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, CEPREI, Guangzhou 510610, P.R.China;Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, CEPREI, Guangzhou 510610, P.R.China;Faculty of Materials and Energy, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510006, P.R.China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Single-event effect Single-event transient Self-test structure |
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