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| 硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究（Ⅱ）——微孔界面过渡层厚度 | |
| 引用本文： | 朱卫华,蒋林华,印友法,车黎明.硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究（Ⅱ）——微孔界面过渡层厚度[J].建筑材料学报,2001,4(3):228-231. |
| 作者姓名： | 朱卫华 蒋林华 印友法 车黎明 |
| 作者单位： | 1. 河海大学数理系 2. 河海大学土木工程学院 3. Dept. of Materials Science and Engineering Bath Univ. Bath BA 4. 水利部松辽水利委员会水利科学研究院 |
| 摘 要： | 采用X射线小角散射(SAXS)技术,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨.研究表明硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而具有约2×10-9m厚度的电子密度缓变的过渡层;当水灰比较大时,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响;水泥石的抗压强度与过渡层厚度存在较显著的相关性. |
| 关 键 词： | 小角度X射线散射 水泥石 硅粉 界面 |
| 文章编号： | 1007-9629(2001)03-0228-04 |
| 修稿时间： | 2000年5月15日 |
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