ICP-AES法测定硒中的15个杂质元素 |
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摘 要: | 以电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)直接同时进行硒里面硒行业标准要求的15个杂质元素Al、As、B、Bi、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Sb、Sn、Si、S、Hg、Te的测定,提出了:试样溶解的方法、元素的干扰情况、基体匹配补偿基体效应、元素分析谱线的最佳选择和背景校正的最佳方法。优化仪器工作条件,综合确定了最佳试验条件,结果表明,该法准确、快速、简便,精密度、回收率、标准样品分析对照均取得了满意的效果。
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