| 射频导纳物位测量中的同步采样技术研究 |
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| 引用本文： | 张超,蔡萍,杨重远,吴群.射频导纳物位测量中的同步采样技术研究[J].仪表技术与传感器,2004(2):52-54. |
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| 作者姓名： | 张超 蔡萍 杨重远 吴群 |
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| 作者单位： | 1. 上海交通大学信息检测技术与仪器工程系,上海,200030
2. 香港时毅电子有限公司,上海,200052 |
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| 摘 要： | 介绍一种基于射频导纳技术的电容式物位计的实现方法，这种方法能够消除物位计挂料影响，从而提高测量的准确度。阐述了基于PIC18F452单片机对射频信号进行同步数据采集的方法。
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| 关 键 词： | 物位测量 射频导纳 同步采样 电容式物位计 单片机 数据采集 |
| 文章编号： | 1002-1841(2004)02-0052-03 |
| 修稿时间： | 2003年9月8日 |
Study on Synchronous Sampling in Technology of RF.Admittance Level Measurement |
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| ZHANG Chao,CAI Ping,YANG Zhong-yuan,WU Qun.Study on Synchronous Sampling in Technology of RF.Admittance Level Measurement[J].Instrument Technique and Sensor,2004(2):52-54. |
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| Authors: | ZHANG Chao CAI Ping YANG Zhong-yuan WU Qun |
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| Affiliation: | ZHANG Chao~1,CAI Ping~1,YANG Zhong-yuan~1,WU Qun~2 |
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| Abstract: | Introduces a realization method of capacitance level meter,the method is based on RF. admittance technology,which can improve the accuracy of measuring,and has a emphasis on the technique of sampling high frequency sine wave using MCU PIC18F452. |
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| Keywords: | Level Measuring RF Admittance Data Sampling |
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