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| 基于PCAP01的高精度电容测量 | |
| 引用本文： | 付洁,赵晴,杨凯文,刘书萌.基于PCAP01的高精度电容测量[J].物联网技术,2014(2):27-29. |
| 作者姓名： | 付洁 赵晴 杨凯文 刘书萌 |
| 作者单位： | [1]西安电子科技大学,陕西西安710071 [2]北京六所新华科电子技术有限公司,北京100083 |
| 摘 要： | 电容测量技术在电子产品制造和维修中有着重要的意义及广泛的应用,文中提出了基于PCAP01单芯片方案的电容检测系统,给出了以单片机MSP430F149为核心的高精度电容测量系统的软硬件架构,该系统可实现高精度的电容测量。 |
| 关 键 词： | 电容测量 PCAP MSPF |
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