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| 汝瓷成分的线扫描分析 | |
| 引用本文： | 朱剑,毛振伟,杨益民,冯敏,王昌燧,孙新民,郭木森,黄宇营,何伟. 汝瓷成分的线扫描分析[J]. 核技术, 2002, 25(10): 853-858 |
| 作者姓名： | 朱剑 毛振伟 杨益民 冯敏 王昌燧 孙新民 郭木森 黄宇营 何伟 |
| 作者单位： | 1. 中国科学技术大学科技史与科技考古系,合肥,230026 2. 河南省文物考古研究所,郑州,450000 3. 中国科学院高能物理研究所,北京,100039 |
| 基金项目： | 国家自然科学重点基金 (10 135 0 5 0 )，中国科学院知识创新工程 (KJCX -No .4 )资助 |
| 摘 要： | 用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析，结果表明：在汝瓷胎、釉之间的确存在一个元素含量与两者相差很大的中间层。我们认为这时汝瓷在烧制过程中，瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的，这个中间层在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电镜下看不到。此工作不仅有助于研究汝瓷的结构和烧造工艺，也将有利于SRXRF无损分析技术在考古领域的运用。 |
| 关 键 词： | SRXRF 汝瓷 线扫描分析 中间层 考古 陶瓷 成分分析 汝窑 同步辐射X射线荧光分析 |
| 修稿时间： | 2002-08-10 |
Line scan analysis of the component of Ru porcelain by SRXRF method |
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| ZHU Jian MAO Zhenwei YANG Yimin FENG Min WANG Changsui. Line scan analysis of the component of Ru porcelain by SRXRF method[J]. Nuclear Techniques, 2002, 25(10): 853-858 | |
| Authors: | ZHU Jian MAO Zhenwei YANG Yimin FENG Min WANG Changsui |
| Abstract: | The technique of the SRXRF line scan analysis was used to measure contents of 11 elements at the broken plane of the Ru porcelain from porcelain glaze to body. It is found that there exists a great different layer of contents of elements between the porcelain glaze and body. The mechanism may be that in the process of firing the porcelain, materials of glass-glaze of porcelain glaze infiltrate into the surface of porcelain body, that could fit the phenomenon of observation by different microscopes (stereomicroscope, polarizing microscope and scanning electron microscope). |
| Keywords: | SRXRF Ru porcelain Line scan analysis Midst layer |
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