| 一种采用单片机实现的基于离散积分的真有效值测量方法 |
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| 引用本文： | 邱玉春. 一种采用单片机实现的基于离散积分的真有效值测量方法[J]. 工业控制计算机, 2012, 25(8): 134-135 |
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| 作者姓名： | 邱玉春 |
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| 作者单位： | 扬州通源科技有限公司,江苏扬州,225001 |
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| 摘 要： | 介绍一种采用PIC单片机实现的基于离散积分的真有效值测量方法,并基于Proteus软件对多种波形的输入情况进行了仿真验证,实现了RMS测量的低成本解决方案。
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| 关 键 词： | 真有效值 单片机 测量 |
A Method for Testing RMS with MCU Based on Discrete Integral |
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| Abstract: | A method for testing RMS with MCU based on discrete integral is introduced in this paper,and this method is simulated with Proteus software by using several kinds of input signal.It is a low-cost solution to measure RMS. |
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| Keywords: | RMS MCU measurement |
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