| Gage R＆R分析法在IGBT检测中的应用 |
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| 引用本文： | 谭金,范伟,王忠敏,胡超. Gage R＆R分析法在IGBT检测中的应用[J]. 计量与测试技术, 2014, 41(9): 47-48 |
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| 作者姓名： | 谭金 范伟 王忠敏 胡超 |
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| 作者单位： | 中国航天科工集团7801研究所,湖南长沙,410205 |
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| 摘 要： | 准确测量是生产高质量IGBT的重要保证。本文介绍了IGBT检测误差产生的各种原因及其对测量数据统计特性的影响,重点讨论了量具的重复性和再现性。在Gage R＆R分析的基础上,给出了Gage R＆R分析在IGBT检测过程中的应用,并将Gage R＆R分析成功的应用到半导体检测领域。
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| 关 键 词： | Gage R&R分析 重复性 再现性 IGBT测试 |
Gage R&R Analysis Application in IGBT Testing |
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| Tan Jin,Fan Wei,Wang Zhongmin,Hu Chao. Gage R&R Analysis Application in IGBT Testing[J]. Metrology and Measurement Technique, 2014, 41(9): 47-48 |
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| Authors: | Tan Jin Fan Wei Wang Zhongmin Hu Chao |
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| Affiliation: | Tan Jin Fan Wei Wang Zhongmin Hu Chao |
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