| 一种基于CIL静态分析的C#程序缺陷检测方法 |
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| 引用本文： | 边攀,梁彬,石文昌.一种基于CIL静态分析的C#程序缺陷检测方法[J].计算机科学,2014,41(1):220-224. |
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| 作者姓名： | 边攀 梁彬 石文昌 |
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| 作者单位： | 中国人民大学信息学院 北京100872;中国人民大学信息学院 北京100872;中国人民大学信息学院 北京100872 |
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| 基金项目： | 本文受国家自然科学基金项目(61170240,61070192),核高基重大专项(2012ZX01039-004)资助 |
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| 摘 要： | 通过静态检测发现源程序中的潜在缺陷,可以帮助程序员在软件发布之前发现并修补程序缺陷,提高软件的安全性。提出一种通过静态分析CIL代码来检测C#程序代码缺陷的方法。采用改进的深度优先搜索算法遍历目标程序的控制流程图,结合历史状态缓存机制,能够大幅度提高检测效率;另外,为便于实施别名分析,还提出一种基于内存区域的变量表示方法。基于所述分析方法,开发了一个C#源代码缺陷静态检测系统,并对实际开源项目进行了检测。实验结果表明,本系统能够高效、准确地检测C#程序中常见类型的缺陷。
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| 关 键 词： | 静态分析 缺陷检测 别名分析 CIL C# |
| 收稿时间： | 2013/3/20 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2013/6/17 0:00:00 |
CIL Static Analysis Method for C# Program Defect Detection |
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| BIAN Pan,LIANG Bin and SHI Wen-chang.CIL Static Analysis Method for C# Program Defect Detection[J].Computer Science,2014,41(1):220-224. |
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| Authors: | BIAN Pan LIANG Bin and SHI Wen-chang |
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| Affiliation: | School of Information,Renmin University of China,Beijing 100872,China;School of Information,Renmin University of China,Beijing 100872,China;School of Information,Renmin University of China,Beijing 100872,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Static analysis Defect detection Alias analysis CIL C# |
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