| ICP-AES技术对钼酸铵产品中钨、硅和铝的测定 |
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| 引用本文： | 赵昱.ICP-AES技术对钼酸铵产品中钨、硅和铝的测定[J].中国钼业,2002,26(3):42-44. |
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| 作者姓名： | 赵昱 |
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| 作者单位： | 金钼科技有限责任公司,陕西,渭南,714000 |
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| 摘 要： | 采用由感耦合等离子体原子发射光谱分析技术 (ICP -AES)对钼酸铵产品中的钨、铝和硅的最佳测试条件的选择进行了探讨 ,并用所选的条件进行测试。方法简便、快速、准确 ,检测限和精密度可满足分析要求
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| 关 键 词： | ICP-AES 钨 硅 铝 |
| 文章编号： | 1006-2602(2002)03-0042-03 |
| 修稿时间： | 2001年11月20 |
DETERMINATION OF TUNGSTEN,SILICON AND ALUMINIUM IN THE AMMONIUM MOLYBDATE PRODUCT BY ICP-AES |
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| Zhao Yu.DETERMINATION OF TUNGSTEN,SILICON AND ALUMINIUM IN THE AMMONIUM MOLYBDATE PRODUCT BY ICP-AES[J].China Molybdenum Industry,2002,26(3):42-44. |
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| Authors: | Zhao Yu |
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| Abstract: | The ICP-AES technique was used to analyze tungsten,silicon and aluminium in the ammonium molybdate product. The optimal conditions of determination were discussed .The method is simple,rapid and accurate . The limit of detection and precision are satisfactory to determine the elements. |
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| Keywords: | ICP-AES Tungsten Silicon Aluminium |
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