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室温下脉冲激光沉积制备高取向度AlN薄膜
引用本文:吕磊,李清山,李丽,张立春,齐红霞,王彩凤,郑萌萌. 室温下脉冲激光沉积制备高取向度AlN薄膜[J]. 光电子.激光, 2007, 18(10): 1212-1214
作者姓名:吕磊  李清山  李丽  张立春  齐红霞  王彩凤  郑萌萌
作者单位:曲阜师范大学物理系,山东,曲阜,273165;曲阜师范大学物理系,山东,曲阜,273165;鲁东大学,山东烟台,264025;曲阜师范大学物理系,山东,曲阜,273165;曲阜师范大学激光研究所,山东,曲阜,273165
基金项目:山东省自然科学基金资助项目(Y2002A09)
摘    要:用脉冲激光沉积(PLD)方法,在p-Si(100)衬底上、室温下和不同N2氛围中制备了高度取向的AlN薄膜,并利用X射线衍射(XRD)仪、傅立叶变换红外(FTIR)光谱仪和扫描电子显微镜(SEM)对样品的特征进行了研究.结果表明,在从5×10-6~5.0 Pa的N2气压范围内,制备的薄膜都呈现h<100>晶向,并且随着气压的升高,样品的结晶度有明显的提高.另外,随着N2浓度的增大,Al-N键的结合度增强,AlN晶粒的尺寸增大,在样品表面出现杂散晶粒,薄膜的粗糙度增大.

关 键 词:AlN薄膜  脉冲激光沉积(PLD)  高取向度  室温
文章编号:1005-0086(2007)10-1212-03
修稿时间:2006-09-29

Highly Oriented AlN Thin Films Grown on Si(100) Substrates at Room Temperature by Pulsed Laser Deposition
LV Lei,LI Qing-shan,LI Li,ZHANG Li-chun,QI Hong-xi,WANG Cai-feng,ZHENG Meng-meng. Highly Oriented AlN Thin Films Grown on Si(100) Substrates at Room Temperature by Pulsed Laser Deposition[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2007, 18(10): 1212-1214
Authors:LV Lei  LI Qing-shan  LI Li  ZHANG Li-chun  QI Hong-xi  WANG Cai-feng  ZHENG Meng-meng
Affiliation:1. Physics Department of Qufu Normal University,Qufu 273165 ,China; 2. Ludong University, Yantai 264025 ,China3. Laser Institute of Qufu Normal University,Qufu 273165,China
Abstract:
Keywords:AlN thin films  pulsed laser deposition(PLD)  highly oriented  room temperature  
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