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采用差分相位测量方法的MEMS运动表征系统
引用本文:郭彤,胡春光,陈津平,傅星,胡小唐.采用差分相位测量方法的MEMS运动表征系统[J].光电子.激光,2007,18(11):1340-1343.
作者姓名:郭彤  胡春光  陈津平  傅星  胡小唐
作者单位:天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划) , 高等学校博士学科点专项科研项目
摘    要:介绍了一种基于计算机控制的频闪干涉测试系统,用于测量可动微机电系统(MEMS)器件的离面运动,实现了nm级分辨力.系统采用五步相移高精度干涉测量方法,通过选择器件上的固定点作为参考点,实现差分测量模式,有效消除了随机误差的影响,提高了系统测量的重复性,10次测量的重复精度为3.17 nm.通过研究微谐振器的离面运动特性,说明该系统的强大功能.

关 键 词:微机电系统  微谐振器  频闪照明  动态表征  差分测量
文章编号:1005-0086(2007)11-1340-04
修稿时间:2006-12-18

Dyanmic MEMS Characterization System Using Differential Phase Measurement Method
GUO Tong,HU Chun-guang,CHEN Jin-ping,FU Xing,HU Xiao-tang.Dyanmic MEMS Characterization System Using Differential Phase Measurement Method[J].Journal of Optoelectronics·laser,2007,18(11):1340-1343.
Authors:GUO Tong  HU Chun-guang  CHEN Jin-ping  FU Xing  HU Xiao-tang
Affiliation:State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments,Tianjin University, Tianjin 300072, China
Abstract:A computer-controlled stroboscopic interferometer system is described in the paper to measure out-of-plane motions of micro electromechanical systems(MEMS) structures with nanometer resolution.This system introduces a five-step phase-shifting interferometric measurement method with high accuracy and a differential measurement mode by choosing a fixed area on the device as the reference point,which eliminates the effect of random errors efficiently and improves the measurement repeatability of the system.The...
Keywords:microelectromechanical system(MEMS)  micro-resonator  stroboscopic illumination  dynamic characterization  differential measurement  
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