|
|||||
|
|
| 理化检验与测试技术 | |
| 摘 要： | 802800 薄膜测厚仪——(中国科学院高能物理研究所),《物理学报》,1977,V.26№4.377—380 本仪器可测量厚度从10微克/厘米~2到数百微克/厘米~2的VYNS有机薄膜的厚度(VYNS是氯乙烯和醋酸乙烯的共聚物),其原理,是利用α粒子穿过薄膜后的能量损失来测量薄膜厚度。仪器安装后,先用已知面密度的标准膜(材料与待测膜相同) |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||
|
||||||||
|
||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |