| 半导体制冷元器件性能参数测试实验研究 |
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| 引用本文： | 黄双福,刘曦,袁俊威. 半导体制冷元器件性能参数测试实验研究[J]. 热科学与技术, 2021, 20(6): 521-527 |
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| 作者姓名： | 黄双福 刘曦 袁俊威 |
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| 作者单位： | 福州大学至诚学院,福建福州350002;福州大学石油化工学院,福建福州350116 |
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| 基金项目： | 国家基础科学人才培养基金资助项目;福建省中青年教师教育科研资助项目 |
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| 摘 要： | 设计了一套半导体制冷元器件性能参数测试装置,利用该装置通过实验测得型号TEC1-12706半导体制冷元器件的制冷量和散热量,并结合实验数据与理论计算推导出半导体元器件冷热端温度及相关性能参数.实验结果表明,该装置可测试出半导体制冷元器件在不同温度下的电阻R、塞贝克系数α、导热系数κ和优质系数Z等性能参数;同时,对测试结...
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| 关 键 词： | 半导体制冷元器件 实验研究 性能参数 |
| 收稿时间： | 2021-03-20 |
| 修稿时间： | 2021-07-16 |
Experimental Study on Measuring Performance Parameters of Semiconductor Refrigeration Components |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Experimental measurment of performance of semiconductor refrigeration components |
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