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利用SEM进行X射线显微照像
引用本文:元洁,陈莉华,吴自勤.利用SEM进行X射线显微照像[J].电子显微学报,1988(3).
作者姓名:元洁  陈莉华  吴自勤
作者单位:中国科技大学结构分析实验室,中国科技大学结构分析实验室,中国科技大学结构分析实验室
摘    要:本文的工作是利用扫描电镜的扫描电子束,轰击Cu、Al和C靶,以产生不同波长的X射线,用这种软X射线投射到生物样品上,可以得到生物试样(树叶和蚊子)的X光透射像。我们曾用Cu做靶,产生X射线照射到树叶等生物样品上,得到了它们的图像。本工作报导利用日立公司x—650电镜,在20kV电压,样品电流100nA,曝光时间20分钟,8盲色片作为接收底片,用Cu、Al和C靶进行比较,对家蚊和树叶进行照射,得到图1的X射线透射像。从图中可以看到,当实验条件不变只改变不同的靶材料时,图像的衬度不同。C作为靶材料所得到树叶的图像不仅可清楚地显示粗,细叶脉的形貌还可以看到叶片上木同衬度的细节,Al靶差些,Cu靶更差,只能看到树叶的整体形貌,其原因主要是由于用C靶做为X光射发靶,可产生4.4nm波长的标识X光,

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