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水热合成法制备PZT压电薄膜工艺研究
引用本文:杜立群,赵海波,吕岩. 水热合成法制备PZT压电薄膜工艺研究[J]. 中国机械工程, 2005, 16(Z1): 464-466
作者姓名:杜立群  赵海波  吕岩
作者单位:大连理工大学精密与特种加工技术教育部重点实验室,大连,116023
基金项目:教育部留学基金,辽宁省大连市科研项目
摘    要:对水热合成法制备Pb(Zr1-xTix)O3(PZT)薄膜的原理进行了讨论,以钛、锆的醇盐和硝酸铅等为原料制备出PZT压电薄膜,利用X射线衍射对PZT压电薄膜的成分进行了分析,利用扫描电子显微镜(SEM)对PZT晶体形成过程的变化进行了分析.X射线衍射分析表明,晶体成核阶段,PbZrO3(PZ)成分较多,晶体生长阶段,PZ成分减少,PZT成分逐渐增多.2次重复生长过程后,SEM扫描图像所得为四方形PZT晶体,颗粒平均尺寸为5μm,与Shimomura和Kanda实验所得的PZT晶体颗粒在大小和形状上基本相同,为钙钛矿型结构.

关 键 词:水热合成法  压电薄膜
文章编号:1004-132X(2005)S1-0464-03
修稿时间:2005-03-28

Preparation of PZT Thin Film by Hydrothermal Method
Du Liqun,Zhao Haibo,Lü Yan. Preparation of PZT Thin Film by Hydrothermal Method[J]. China Mechanical Engineering, 2005, 16(Z1): 464-466
Authors:Du Liqun  Zhao Haibo  Lü Yan
Abstract:
Keywords:PZT  MEMS
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