| 用分层规划法进行数字系统测试和诊断 |
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| 引用本文： | 迟钦河 乔桂芳. 用分层规划法进行数字系统测试和诊断[J]. 电子测量技术, 1997, 0(4): 19-25 |
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| 作者姓名： | 迟钦河 乔桂芳 |
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| 作者单位： | 西安交通大学，西安交通大学 |
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| 摘 要： | 在复杂的数字系统中，数字电路的故障诊断和测试非常重要，具有诸多测试算法，以及它们的改进算法。但这些算法都是基于门级的测试算法。利用这些算法对复杂的数字系统生成测试所花的时间是不能接受的。文中把代智能的问题求解方法用于故障诊断和测试，提出了一个新的测试算法－－分层规划和测试算法。该算法用于程控数字交换机印刷电路插件板的测试，取得了满意的效果。该课题获国家教委科技进步一等奖。
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| 关 键 词： | 时序级 可测试性 故障级 分层规划法 数字电路 |
To Test & Diagnosis the Digital Circuit With Hierarchical Planning Method |
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| Chi Qinhe Qiao Guifang. To Test & Diagnosis the Digital Circuit With Hierarchical Planning Method[J]. Electronic Measurement Technology, 1997, 0(4): 19-25 |
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| Authors: | Chi Qinhe Qiao Guifang |
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| Affiliation: | Chi Qinhe Qiao Guifang |
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| Abstract: | This paper describes the process of test & diagnosis of the Large Scale Digital Circuit by and-OR graph andhierarchical planning graph base on the method of artificial intelligence---hierarchical planning.with which a novel testingalgorithm---hierarchical planning to test and diagnose large scale sequential circuit is developped. |
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| Keywords: | Sequential Circuit Measurable Fault step Hierarchical planning |
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