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自动测试设备加流测压及加压测流的设计
引用本文:谭永良,伍广钟,崔华醒,吴文仕.自动测试设备加流测压及加压测流的设计[J].电子技术,2011,38(1):68-69.
作者姓名:谭永良  伍广钟  崔华醒  吴文仕
作者单位:江门市华凯科技有限公司
摘    要:在集成电路的测试中,通常需要给测试的集成电路提稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;本系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.本系统具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测重精度高.

关 键 词:集成电路测试  电压电流源  加压测流  加流测压  箝位

Design of an Automatic Test System for FVMI and FIMV
Tan Yongliang,Wu Guangzhong,Cui Huaxing,Wu Wenshi.Design of an Automatic Test System for FVMI and FIMV[J].Electronic Technology,2011,38(1):68-69.
Authors:Tan Yongliang  Wu Guangzhong  Cui Huaxing  Wu Wenshi
Abstract:
Keywords:
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