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| 红外光谱法在选择锗(锂)半导体探测材料方面的应用 | |
| 作者姓名： | 顾振芳 姜延林 张文青 杨宝安 李广将 |
| 摘 要： | 本工作用红外光谱法,在4000—200 cm~(-1)区域内,对一百多块单晶材料进行了测试。通过对影响单晶透过率变化因素的研究,总结出一些规律性,作为研制高分辨锗(锂)探测器的依据。井给出用红外光谱法选择后的单晶制得的锗(锂)探测器能量分辨率的实验结果。 |
| 关 键 词： | 红外光谱法 锗(锂)半导体 自由载流子 晶格吸收 杂质吸收 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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