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磁控溅射制备SiC薄膜及其高温抗氧化性
引用本文:李辉,李合琴,胡仁杰,张元元. 磁控溅射制备SiC薄膜及其高温抗氧化性[J]. 材料热处理学报, 2013, 34(Z1)
作者姓名:李辉  李合琴  胡仁杰  张元元
作者单位:合肥工业大学材料科学与工程学院,安徽合肥,230009
基金项目:国家"973"计划项目,安徽省自然科学基金,安徽省高校自然科学基金
摘    要:用射频磁控溅射法在单晶Si(100)基片上制备了SiC薄膜.将制备的薄膜分别在800、900和1000℃空气气氛中退火120 min.用X射线衍射仪和傅里叶变换红外光谱仪测试了薄膜的结构,用X射线光电子能谱仪测试了薄膜元素的组成和状态,用场发射扫描电子显微镜测试了薄膜表面的形貌.结果表明:经800℃空气退火后,薄膜表面生成了一层SiO2保护层,阻止了内部SiC薄膜的继续氧化,因此SiC薄膜在800℃具有较好的高温抗氧化性;随着退火温度的升高,SiC薄膜被进一步氧化,经1000℃空气退火后,薄膜已大部分转变为SiO2.

关 键 词:SiC薄膜  射频磁控溅射  SiO2  抗氧化性

High-temperature oxidation resistance of SiC thin films deposited by magnetron sputtering
Abstract:
Keywords:SiC thin film  RF magnetron sputtering  SiO2 resistance of oxidation
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