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| （Bi1—x（Sn0.5Pb0.5）x）2Sr2CaCu2Oy材料的X—ray衍射研究 | |
| 作者姓名： | 熊小涛 李阳 |
| 作者单位： | 北京科技大学材料物理系!100083(熊小涛)，北京科技大学材料物理系(李阳，马庆珠，曹国辉) |
| 摘 要： | 以Ｘ射线物相分析主要手段，并结合正电子寿命谱和多普勒展宽谱和电阻测量，系统地研究了在不同的锡（铅）掺杂量下，Ｂｉ－２２１２超导相结构细节及电子态的变化。在低掺要时，Ｓｎ＾４＋优先占据Ｂｉ位，导致了载流子浓度的提高和层间耦合的加强，有利于超导转变温度的提高，随着掺杂浓度的提高，少量Ｓｎ将进入ＣｕＯ２层，致使其完整性被破坏；同时有更多的杂相析出，对材料的超导电性破坏作用。 |
| 关 键 词： | 铋 2212相 X射线衍射 锡 铅 掺杂 超导体 |
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