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| 用散射线校正X荧光分析误差的研究 | |
| 作者姓名： | 张勤龙 |
| 作者单位： | 马鞍山矿山研究院 |
| 摘 要： | 在X荧光分析中,用散射线校正荧光分析误差已受到普遍重视。目前,主要应用在两个方面:一是在固态试样中,用于克服基体组份差异所造成的荧光分析误差——基体干扰;二是在液固混合试样(如矿浆)中,用于浓度效应的补偿。校正的方法视不同对象而异。本文仅对固态矿物粉末试样的基体干扰校正加以论述,对荧光与散射线之间的内在联系作一研究, |
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