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半导体激光器超短光脉冲测试技术
作者姓名:于虹  朱利  张明德  杨祥林
摘    要:用POM有机晶体作倍频器件,建立了超短光脉冲强度自相关检测系统,并用于半导体超短光脉冲的脉宽测量,灵敏度比以LiIO3为培频晶体的系统提高6dB.

关 键 词:半导体激光器 超短光脉冲 测试
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