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B廓了在n(Si)—GaAs层中的化学补偿效应
引用本文:刘伊犁,罗晏.B廓了在n(Si)—GaAs层中的化学补偿效应[J].半导体学报,1996,17(5):360-364.
作者姓名:刘伊犁  罗晏
作者单位:北京师范大学低能核物理研究所
摘    要:B注入n(Si)-GaAs层,经高温退火在GaAs晶格恢复过程中,B将占据GaAs晶格中一定位置成为替位B,当B取代As位,则形成双受主BAs,,当B取代Ga位,并形成络合物BGaYAs,将促使Si占As位,形成受主SiAs和受主络合物BgaSiAs,由于所产生的受主与n层中施主SiGa的补偿,减少了n 的载流子浓度,即B的化学补偿效应,本采用霍测量及光致光发测量对B的补偿行为进行分析。

关 键 词:B离子注入  GaAs  化学补偿效应
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