2π入射裂片径迹火花计数技术 |
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引用本文: | 康铁笙,翟鹏济.2π入射裂片径迹火花计数技术[J].核电子学与探测技术,1987(2). |
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作者姓名: | 康铁笙 翟鹏济 |
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作者单位: | 中国科学院高能物理所
(康铁笙),中国科学院高能物理所(翟鹏济) |
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摘 要: | 火花计数器是一种自动计数的固体核径迹探测器。这种方法计数快,结构简单,操作方便,可以解脱繁重的目视测量。与垂直入射的裂片径迹相比,以2π立体角入射的裂片径迹火花计数技术有其自身特点。裂片以2π立体角射入薄膜,在一定蚀刻条件下,膜上蚀成的孔洞径迹,只是记录径迹的一部分。显然,膜越薄,灵敏度越高;蚀刻时间越长,孔洞径迹占的比例越大,火花计数也越多。我们取火花计数与膜上被蚀刻出的总径迹数之比为火花计数效率。同一片蚀刻过的膜,多次进行火花计数,其脉冲数不完全相同。若多
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关 键 词: | 火花计数器 裂片 坪曲线 效率 |
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