正电子寿命谱数据处理可靠性的验算

我们用S.J.Tao提出的最小二乘法拟合多指数曲线的计算方法来分解实验测得的正电子湮没寿命谱。由于测试仪器有一定的分辨率,因而实际测到的计数F_i(t)与真实的强度N_i(t)之间有差异。这种差异在寿命谱的起始部分表现得十分强烈(见图1)。 在我们的实验中,仪器分辨率为260ps,道宽为43.5ps,一般从t～330ps以后,按2或3组分拟合分解寿命谱。在不使用“去卷积”方法扣除分辨函数的影响时,舍去起始的7～8个实验点。