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三维形貌测量中自动调焦系统的设计
引用本文:童凯,任锐,李志全. 三维形貌测量中自动调焦系统的设计[J]. 光电工程, 2004, 31(3): 56-59
作者姓名:童凯  任锐  李志全
作者单位:燕山大学,河北,秦皇岛,066004;装甲兵工程学院控制工程系,北京,100072
摘    要:在相移干涉显微镜中增加了自动调焦系统,使其快速获取高清晰干涉图像,提高了三维形貌的测量速度和测量精度。调焦系统采用图像自动调焦方法,分别以图像标准差函数和图像最大熵函数作为粗调函数和精调函数。实验表明本系统自动调焦范围扩大到150m,自动调焦精度为0.3m,调焦时间为4-8s。

关 键 词:自动调焦  形貌测量  干涉显微镜  相移
文章编号:1003-501X(2004)03-0056-04
收稿时间:2003-02-20
修稿时间:2003-02-20

Design of an automatic focusing system for 3-D topography measurement
TONG Kai,REN Rui,LI Zhi-quan. Design of an automatic focusing system for 3-D topography measurement[J]. Opto-Electronic Engineering, 2004, 31(3): 56-59
Authors:TONG Kai  REN Rui  LI Zhi-quan
Affiliation:TONG Kai1,REN Rui2,LI Zhi-quan1
Abstract:
Keywords:Automatic focusing  Topography measurement  Interference microscope  Phase shift
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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