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AMS测量~(32)Si的ΔE-Q3D方法
引用本文:龚杰,李朝历,王伟,陆丽燕,李世琢,何明,姜山.AMS测量~(32)Si的ΔE-Q3D方法[J].核技术,2010,33(7).
作者姓名:龚杰  李朝历  王伟  陆丽燕  李世琢  何明  姜山
作者单位:1. 中国原子能科学研究院,北京,102413
2. 广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004
基金项目:国家自然科学基金项目 
摘    要:32Si(~140a)是Si的唯一长寿命放射性核素,在100-1000a时间尺度的同位素地质定年和硅的全球生物地球化学循环研究中有不可替代的重要地位。加速器质谱技术(AMS)的灵敏度高、样品用量少、测量时间短,是测量32Si的最合适方法。本实验室正在着力建立32Si的AMS测量法。在游泳池堆中辐照31P和30Si生产32Si;通过实验确定了样品的化学形式、离子源导电介质种类及其比例和离子源引出形式;建立了从辐照样品提取32Si和稀释高含量样品的化学流程。经多次实验条件摸索和改进,成功测得了含量为10-13水平的样品中的32Si计数,灵敏度好于1.5×10-14,成功建立了AMS高灵敏测量32Si的ΔE-Q3D方法。

关 键 词:加速器质谱  △E-Q3D  辐照  超灵敏测量

The △E-Q3D method for AMS measurement of 32Si
GONG Jie,LI Chaoli,WANG Wei,LU Liyan,LI Shizhuo,HE Ming,JIANG Shan.The △E-Q3D method for AMS measurement of 32Si[J].Nuclear Techniques,2010,33(7).
Authors:GONG Jie  LI Chaoli  WANG Wei  LU Liyan  LI Shizhuo  HE Ming  JIANG Shan
Abstract:
Keywords:32Si
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