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多芯片系统可靠性技术
作者姓名：杨克武 杜磊 等
作者单位：[1]信息产业部电子13所 [2]西安电子科技大学
摘    要：
关 键 词：多芯片系统 可靠性 集成电路 应力失效 热分析
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