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| 场离子显微镜(一)—原子探针场离子显微镜 | |
| 作者姓名： | 陆华 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所 |
| 摘 要： | 由E.W.Mller发明的场离子显微镜(Field Ion Microscope,FIM)已成为目前研究金属以及某些半导体表面的原子排列及其缺陷的一种极为重要的表面分析手段。关于FIM的基本原理、结构和参量,我们在资料中已介绍过,在本讲座中不再赘述。直到六十年代中期,FIM实验研究中的一个很重要的问题没能很好地得到解决,那就是,每当发现FIM像中出现一些特别明亮的异常像点时,尽管根据经验知道它们是一些异种原子或吸附的杂质原子,但无法具体知道它们究竟是什么原子。为了解决这个问题, |
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