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| 防银变色试验总结 | |
| 引用本文： | 陈羊莲,李宗明.防银变色试验总结[J].电子工艺技术,1987(Z1). |
| 作者姓名： | 陈羊莲 李宗明 |
| 作者单位： | 电子部第36研究所，电子部第36研究所 |
| 摘 要： | 一、前言多年来,镀银变色一直是电子工业中的老大难问题。镀银层变色后不仅影响外观,更重要的是接触电阻增大,妨碍导电性能,造成焊接困难,影响器件的寿命和可靠性,降低实用价值。特别是电子设备中的高频及超高频元件由于银层变色而造成的导电性能下降更为突出。而镀银件在电子工业中应用既多、面又广,占有极为重要的位置。因此,防止 |
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