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Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析
引用本文:张连东,聂中明,傅莉,查钢强,介万奇. Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析[J]. 功能材料, 2008, 39(6): 1050-1052
作者姓名:张连东  聂中明  傅莉  查钢强  介万奇
作者单位:西北工业大学,材料学院,陕西,西安,710072;西北工业大学,材料学院,陕西,西安,710072;西北工业大学,材料学院,陕西,西安,710072;西北工业大学,材料学院,陕西,西安,710072;西北工业大学,材料学院,陕西,西安,710072
基金项目:国家自然科学基金 , 陕西省自然科学基金
摘    要:采用化学镀金法在高阻p-CZT(CdZnTe)晶片表面制备Au电极,并用改进的圆环传输线模型(Ring-CTLM)测量了CZT电极的接触电阻,探讨了大气气氛下退火温度对CZT电极欧姆特性的影响.实验结果表明,200℃退火可以显著改善欧姆特性,使接触电阻率ρc显著减小,采用Ring-CTLM模型测得CZT与金电极接触电阻率为0.1524Ω·cm2.通过XPS分析了CZT与Au电极接触界面的成分,发现在Au/p-CdZnTe界面处形成了CdTeO3层,该界面层可起到载流子复合中心的作用,构建的新模型很好地解释了化学镀金法在p-CdZnTe晶片表面形成欧姆接触的机理.

关 键 词:CdZnTe晶片  化学镀金  接触电阻率测量  CdTeO3界面层

Electrical measurement and interface analysis of the ohmic contact on p-CdZnTe with electroless Au
ZHANG Lian-dong,NIE Zhong-ming,FU Li,ZHA Gang-qiang,JIE Wan-qi. Electrical measurement and interface analysis of the ohmic contact on p-CdZnTe with electroless Au[J]. Journal of Functional Materials, 2008, 39(6): 1050-1052
Authors:ZHANG Lian-dong  NIE Zhong-ming  FU Li  ZHA Gang-qiang  JIE Wan-qi
Abstract:
Keywords:
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